SLEDOVANIE NADMOLEKULOVÝCH ŠTRUKTÚR

DYNAMIC MODULUS TESTER PPM-5R od firmy H. M. Morgan, Co.

Prístroj na meranie rýchlosti zvuku vo vlákne.
Z nameranej rýchlosti zvuku môžeme následne vypočítať faktor priemernej orientácie vlákien. So zvyšovaním orientácie vlákien stúpa aj rýchlosť šírenia zvuku v anizotropnom systéme.

Skenovací elektrónový mikroskop JEOL JSM-7500F

Elektrónový mikroskop s možnosťou merať:
SEM obrázky – štandardná SEM mikroskopia s vysokým rozlíšením od 1 nm vo všetkých režimoch
Cryo režim – vlhké vzorky, biologické vzorky, ako aj systémy na báze vody je možné merať pomocou cryo režimu
EDS analýza – mikroskop je vybavený EDS analyzátorom (umožňuje vykonávať röntgenovú analýzu pozorovanej oblasti). Môže sa realizovať mapovanie chemických prvkov a analýza chemického zloženia podľa koncentrácie chemických prvkov. Detekovateľné sú prvky od Be.
CP leštič – CP leštič na prípravu priečnych rezov je voliteľnou súčasťou mikroskopu. Tento nástroj umožňuje pripraviť veľmi jemný priečny rez vzorky pomocou Ar iontového noža. Táto možnosť je jedinečným nástrojom na prípravu vzoriek, ktorá je nevyhnutná na pozorovanie pri vysokom zväčšení a poskytuje možnosť identifikovať všetky štruktúrne detaily.

Opticky mikroskop Olympus BX51

Laboratórny mikroskop na pozorovanie v prechádzajúcom svetle, ktorý umožňuje pozorovať objekty vo zväčšení 4×, 10x, 20x, 40 a 60×.
Na mikroskop je trvalo nainštalovaná digitálna kamera Olympus DP23, ktorá pomocou programu grafickej analýzy cellSens na vedľajšom počítači umožňuje vyhotoviť a na pevnom disku skladovať fotografie publikovateľnej kvality.